常見測厚儀歸納

時間：2021-05-20    訪客：

X射線測厚儀 紙張測厚儀 　 薄膜測厚儀　 　　涂層測厚儀　　超聲測厚儀
X射線測厚儀：它是利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。
主要應用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.

紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。